2025年6月17日上午，前沿技术服务中心组织召开双束扫描电镜（FIB-SEM）的技术验收会，邀请浙江省电镜与微结构学会理事长、浙江大学李吉学教授，浙江省分析测试学会电镜微结构专业委员会副理事长、浙江理工大学李超荣教授，浙江大学冷冻电镜中心副主任吴航军高级实验师，浙江大学洪健研究员，浙大杭州科创中心何世伟院长，及我校郑辉副教授组成了验收评审专家组，前沿技术服务中心主任樊冰主持验收会，经过会议专家推举，由李吉学教授任专家组组长。
前沿技术服务中心主任樊冰代表杭州电子科技大学致辞，对参加会议的专家表示热烈欢迎，也感谢了仪器厂家国仪量子公司在各方面给予的大力支持。
验收环节首先由国仪量子张延赵工程师汇报了双束扫描电镜（DB550）的各项技术指标及达标情况，然后专家到电镜室查看了国仪量子方案经理、上海应用中心主管王锋工程师的现场重要的指标演示。
验收专家组通过听取报告和查看现场演示，审阅了技术服务协议、性能指标等材料，就图像分辨率等问题进行了仔细的质询。
经过质询和讨论，验收专家组一致认为双束扫描电镜主机、附件及备件符合合同规定，设备运行正常，各项技术性能指标达到采购要求，与会专家一致同意设备通过验收。
经过验收，电子信息大仪中心的双束扫描电镜（FIB-SEM）将马上登陆校大仪共享平台，为广大师生正式开启共享服务，欢迎大家前来预约测量。
